宇航志達(dá)高低溫試驗(yàn)箱,精準(zhǔn)模擬極端溫變環(huán)境

內(nèi)容摘要：1. 導(dǎo)讀2. 目錄快速答案卡片試驗(yàn)箱技術(shù)核心與典型應(yīng)用試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理關(guān)鍵參數(shù)解析表選型決策流程與橫評(píng)表選型決策流程選型橫評(píng)表采購全流程C...

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1. 導(dǎo)讀

問題	答案
核心參數(shù)	溫度范圍-70℃~+180℃，精度± ℃，負(fù)載容量100kg（依型號(hào)）
典型應(yīng)用	電子元器件高溫老化、汽車電池溫濕度循環(huán)、航空航天材料熱應(yīng)力測(cè)試
選型關(guān)鍵	試樣尺寸、控制方式（伺服PID）、安全聯(lián)鎖（超溫報(bào)警、門鎖保護(hù)）
價(jià)格區(qū)間	5萬~50萬元（依容積與精度）
維護(hù)周期	每3個(gè)月清潔冷凝器，每年校準(zhǔn)溫濕度傳感器（依據(jù)GB/T ）

高低溫試驗(yàn)箱通過模擬極端溫度環(huán)境，驗(yàn)證產(chǎn)品在熱脹冷縮、凝露、材料脆化等工況下的可靠性。例如：

參數(shù)	說明	典型值
溫度范圍	最低與最高可達(dá)溫度（含均勻性）	-70℃~+180℃（均勻性±2℃）
負(fù)載容量	試樣總質(zhì)量（影響升溫速率）	50kg/100kg/200kg
控制方式	伺服PID控制（響應(yīng)速度<2秒） vs 液壓控制（適用于大容積）	伺服PID（宇航志達(dá)主流方案）
安全聯(lián)鎖	超溫保護(hù)、門鎖聯(lián)動(dòng)、急停按鈕（符合IEC 61010-1）	三重聯(lián)鎖（宇航志達(dá)標(biāo)準(zhǔn)配置）

選型橫評(píng)表

型號(hào)	溫度范圍	濕度范圍	容積（L）	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
YZHD-80	-40℃~+150℃	20%~98%RH	80	±1℃	GB/T 2423	遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯
YZHD-200	-70℃~+180℃	10%~98%RH	200	± ℃	IEC 60068-2-1	爆炸防護(hù)（鋰電池專用）
YZHD-500	-60℃~+150℃	15%~95%RH	500	± ℃	MIL-STD-810G	多通道數(shù)據(jù)采集

需求確認(rèn)：填寫《試驗(yàn)箱技術(shù)需求表》（含試樣尺寸、溫濕度曲線）；
技術(shù)協(xié)議：明確溫度均勻性、負(fù)載限制、校準(zhǔn)周期；
報(bào)價(jià)對(duì)比：要求廠商提供分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備、運(yùn)輸、安裝）；
FAT/SAT驗(yàn)收：
- FAT（工廠驗(yàn)收）：空載/滿載溫度偏差測(cè)試；
- SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：實(shí)際工況運(yùn)行72小時(shí)；
計(jì)量校準(zhǔn)：委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室）出具校準(zhǔn)證書。

故障現(xiàn)象：溫度波動(dòng)>±2℃
- 原因：冷凝器積灰、制冷劑泄漏、PID參數(shù)失調(diào)；
- 解決：清潔冷凝器、檢漏補(bǔ)加R404A、重新整定PID。
維護(hù)周期：
- 每季度更換空氣過濾器；
- 每年更換干燥劑（濕度控制型號(hào)）。

Q1：如何選擇試驗(yàn)箱容積？
A：試樣總體積≤設(shè)備容積的70%，預(yù)留通風(fēng)空間。例如測(cè)試10個(gè)200mm×200mm電路板，需選≥80L型號(hào)。

Q2：高溫老化測(cè)試是否需要濕度控制？
A：電子元器件高溫測(cè)試通常無需濕度（干熱老化），但鋰電池需控制濕度<30%RH以防止凝露短路。

Q3：設(shè)備報(bào)價(jià)差異大的原因？
A：低價(jià)機(jī)型可能虛標(biāo)溫度范圍（如標(biāo)稱-70℃但實(shí)際-50℃不穩(wěn)定），或省略安全聯(lián)鎖功能。

Q4：校準(zhǔn)費(fèi)用多少？
A：CNAS實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)費(fèi)用約2000~5000元/次，含溫度、濕度、均勻性三項(xiàng)。

Q5：進(jìn)口品牌與宇航志達(dá)如何選？
A：進(jìn)口品牌（如ESPEC）精度更高（± ℃），但價(jià)格翻倍；宇航志達(dá)性價(jià)比優(yōu)勢(shì)明顯，適合國內(nèi)常規(guī)測(cè)試需求。

全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)：《GB/T 2423系列環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)解讀》
中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)（CNAS）：《實(shí)驗(yàn)室設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》